Фундаментальные основы анализа нанопленок, Терри Л. Альфорд, Леонард К. Фельдман, Джеймс В. Майер

Серия «Фундаментальные основы нанотехнологий: лучшие зарубежные учебники»

Fundamentals of Nanoscale Film Analysis, Terry L. Alford, L.C. Feldman, James W. Mayer, 2007

Fundamentals of Nanoscale Film Analysis

«Фундаментальные основы анализа нанопленок», Терри Л. Альфорд, Леонард К. Фельдман, Джеймс В. Майер
Перевод с англ. — А.Н. Образцов, М.А. Долганов, науч. ред. — д.ф.-м.н., проф. А.Н. Образцов
- Переплет, 392 с.
- Формат: 70х100/16
- Год издания: 2012
- ISBN: 978-5-91522-225-9
- Цена: 490 руб.

Фундаментальные основы анализа нанопленок

Аннотация

Книга посвящена рассмотрению проблем фундаментальной физики, лежащих в основе методов, используемых для изучения поверхностей и приповерхностных слоев материалов. Появление и развитие таких аналитических методик, основанных на явлениях взаимодействия частиц и излучения с веществом, обусловлено, прежде всего, ростом технологических потребностей. Ионная имплантация, электронные пучки и лазеры используются также и для модификации состава и структуры материалов. Осаждение потоков частиц, получаемых с помощью различных источников, позволяет получать пленочные материалы. Так, эпитаксиальные слои могут быть получены с использованием молекулярных пучков, а также с помощью физического и химического газофазного осаждения. Методики, основанные на изучении взаимодействия с частицами, позволяют, например, обеспечить контролируемые условия окислительных и каталитических реакций. Ключом к успешному использованию данных методик является широкая доступность аналитических технологий, чувствительных к составу и структуре твердых тел на нанометровом масштабе.

Книга предназначена для специалистов в области материаловедения и инженеров, интересующихся использованием различных видов спектроскопии и/или спектрометрии. Для людей, занимающихся анализом материалов, которым необходима информация о технике, имеющейся за пределами и лабораторий; и особенно для студентов старших курсов и выпускников, собирающихся использовать это новое поколение аналитических методов в своей научной работе.

Оглавление